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儀器檢出限是什么意思？
答： 儀器檢出限是指分析儀器能檢出與噪音相區(qū)別的小信號(hào)的能力，計(jì)算式為3SD/k,即3倍的空白溶液的10次光強(qiáng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差除以元素曲線的斜率。
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AFS200T有哪些性能特點(diǎn)？
答： 采用非色散光學(xué)系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可進(jìn)行兩道元素同時(shí)測(cè)量。燈電流、負(fù)高壓、蠕動(dòng)泵轉(zhuǎn)速等自動(dòng)控制；USB2.0通訊接口。Ar氣流量自動(dòng)控制，儀器不工作時(shí)自動(dòng)切斷Ar氣，方便用戶操作，節(jié)省氣源用量。儀器內(nèi)部配備火焰實(shí)時(shí)觀察裝置，方便用戶檢測(cè)儀器運(yùn)行狀態(tài)。
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AAS6000有哪些性能特點(diǎn)？
答： 乙炔檢測(cè)；火焰探測(cè)；全反射，消色差。自動(dòng)化程度高，全程自動(dòng)化操作。8個(gè)元素?zé)?，?jié)省換燈時(shí)間。氣路安全保護(hù)，讓您的操作更加安全。USB接口方式，讓您的操作更加的方便、快捷。230nm的光柵閃耀波長(zhǎng)，讓紫外區(qū)的靈敏度提高數(shù)倍。1800線的光柵刻線密度，讓分辨率高人一等。
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.ICP-2000有哪些性能特點(diǎn)？
答： 多元素同時(shí)測(cè)定。檢出限低：可以達(dá)到1－10ppb。分析的濃度動(dòng)態(tài)線性范圍寬，可達(dá)5－6個(gè)數(shù)量級(jí)?；瘜W(xué)干擾少，準(zhǔn)確高， RSD≤2％。分析速度快，分析成本低。
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EDX6000B有哪些性能特點(diǎn)？
答： 電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析。針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。 多變量非線性回歸程序。智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。
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EDX3600B有哪些性能特點(diǎn)？
答： 內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。
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WDX200有哪些性能特點(diǎn)？
答： 自主研發(fā)的X 熒光分析儀軟件系統(tǒng)，使儀器可以作為OPC SERVER 與OPC 構(gòu)架的DCS 系統(tǒng)或QCX 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)無(wú)縫連接；也可配置為QCX服務(wù)器；采用全中義操作界面，使儀器操作簡(jiǎn)單方便；采用全譜檢測(cè)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了各道譜線的即時(shí)跟蹤和校正，從而大大提高了定量分析的重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性，同時(shí)也提供了診斷儀器工作狀態(tài)的直觀依據(jù)；備有經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法和理淪a系數(shù)法兩種定量分析軟件。其中理論a 系數(shù)法軟件在保證定量分析準(zhǔn)確性的條件下可以大大減少標(biāo)樣數(shù)量；分析數(shù)據(jù)處理，線性擬合，各種基體校正；在分析值的基礎(chǔ)上進(jìn)行特性率值的計(jì)算：人機(jī)對(duì)話，對(duì)各種參數(shù)進(jìn)行設(shè)定和修改；分析數(shù)據(jù)和報(bào)告輸出方便及時(shí)。
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AFS設(shè)備工作原理是什么？
答： 原理：氣態(tài)自由原子吸收光源的特征輻射后，原子的外層電子躍遷到較高能級(jí)，然后又躍遷返回基態(tài)或較低能級(jí)，同時(shí)發(fā)射出與原激發(fā)波長(zhǎng)相同或不同的發(fā)射即為原子熒光。
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AAS設(shè)備工作原理是什么？
答： 原理：利用光源發(fā)出被測(cè)的特征光譜輻射，被經(jīng)過(guò)原子化器后的樣品蒸氣中的待測(cè)元素基態(tài)原子所吸收，通過(guò)測(cè)定特征輻射被吸收的大小，來(lái)求出被測(cè)元素的含量。
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ICP設(shè)備工作原理是什么？
答： 原理：是根據(jù)處于激發(fā)態(tài)的待測(cè)元素原子回到基態(tài)時(shí)發(fā)射的特征譜線對(duì)待測(cè)元素進(jìn)行分析的方法。
